TEM测试
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性能
最高加速电压 200KV
电子枪 场发射(FEG)
点分辨率 0.24nn
晶格分辨率 _0.14nm
最小東斑尺寸 1.5nm
放大倍数 _25X~1030KX
样品台最大倾转角 A:土40°B:土40°
X射线能谱分辨率 136eV
分析范围 Be^U
1粉末样品基本要求
(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;
(2)无磁性;
(3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污
染,高压跳掉,甚至击坏高压枪。
2块状样品基本要求
(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;
(2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察
;
(3)无磁性。