透射电子显微镜(TEM)
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1、普通形貌观察; 2、选区电子衍射; 3、高分辨像 ;4、EDS能谱; 5、STEM像; 6、三维重构。
1、肖特基场发射电子枪,加速电压200KV; 2、配备单倾样品杆、低背景双倾样品杆、三维重构样品杆; 3、Gatan 832 CCD相机,分辨率4K*2.7K ;4、点分辨率:0.24nm ;5、放大倍数:25× ~ 1000k×; 6、样品最大倾角:+/-40°。
透射电子显微镜(TEM)具有高空间分辨率,集形貌观察、晶体结构鉴定及化学成分分析等功能于一身,提供了从微米直到原子尺度直接观察形貌、界面及晶体缺陷的技术,是研究化学、生物、材料样品,尤其是纳米材料的强有力手段。
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