029-88186855
029-88186855
版权所有©西安横渠科技有限公司 陕ICP备18006673号-1
时域热反射测量系统（TDTR）
在线咨询品牌： 型号： 未知
1.体块、薄膜材料的热导率测量；2.异质界面界面热导的测量；3.液体、纳米颗粒、高分子材料热导率测量；4.纳米薄膜的厚度、声速或者弹性模量测量；
测量指标 | TDTR性能参数 |
适用材料 | 薄膜、体块材料，液体，纳米颗粒 |
样品尺寸 | 厚度 > 50 nm，横向尺寸 > 5 μm |
热导率范围 | 0.05 - 2000 W/(m·K) |
测量误差 | 体块 ~ 8%，薄膜 ~ 12% |
典型案例/测试结果：
图（a）.对常见体块材料（由上至下分别为硅、蓝宝石、铌酸锂、二氧化硅、云母）测量信号（-Vin/Vout）示意图；
图（b）.对上述材料测量得到的热导率数值和文献报道数值的对比示意图；
图（c）.对体块蓝宝石变温测量得到的热导率数值与文献报道数值、3ω法测量数值的对比示意图；
图（d）.对292nm二氧化硅片（以硅为衬底）变温测量得到的热导率数值与文献报道数值的对比示意图。
