测试表层晶粒尺寸和残余应力

提交方案
类别:科研设备

截止日期:2019-04-30 预算:面议 征集状态:已完结

残余应力测试目的:需得到试样沿厚度方向的等效残余应力分布

晶粒尺寸测试目的:需要得到试样TEM图像以及通过计算得来的平均晶粒尺寸大小以及沿厚度方向的分布。

需求市场

发布日期:2019-04-08
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