XPS带附件俄歇电子能谱(AES)

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类别:试验检测

截止日期:2019-06-27 预算:面议 征集状态:已完结

纳米SiC颗粒粉末,表面有一层氧化膜(SiO2),通过表面层的元素分布来推测表面氧化层的厚度。

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发布日期:2019-05-27
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