Pt薄膜的XMCD测试

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类别:试验检测

截止日期:2022-08-31 预算:面议 征集状态:已完结

样品是由磁控溅射沉积在硅片上的薄膜,Ta层作缓冲层,之后溅射的Pt层,测Pt的磁响应信号。

需求市场

发布日期:2022-08-18
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