变温霍尔测试系统

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类别:试验检测

截止日期:2019-10-31 预算:面议 征集状态:已完结

半导体 块体,要求:10-300 K 或 室温300 K。测试目的:霍尔系数、载流子浓度和迁移率,半导体类型

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发布日期:2019-09-09
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