029-88186855
029-88186855
版权所有©西安横渠科技有限公司 陕ICP备18006673号-1
18O,16O同位素强度随深度剖析-二次离子质谱SIMS（同位素元素深度剖析）
提交方案截止日期：2019-10-23 预算：面议 征集状态：已完结
硅酸盐陶瓷片一共有15个样品，是5种成分不同的样品通过在3个不同的温度点下在18O2氧化下获得的样品，要通过SIMS，获得每一个样品中18O以及16O强度与溅射深度的对应关系。
测试目的：1. 获得每一个样品中18O以及16O的强度与溅射深度的关系图（原始数据图）。
2. 给出任一溅射深度（多少微米/纳米）处，所对应的18O以及16O的强度（数据）
