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Ti-O-Na和Ti-O-Sr薄片XRD测试仪
截止日期：2019-10-31 预算：面议 征集状态：已完结
Ti-O-Na和Ti-O-Sr薄片，纳米线，由于样品表面的制备的形貌比较薄，需要小角测试来减小基体材料的峰强以及增加表面元素的峰强度。目的：研究材料表面分布元素的晶面。
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