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二次离子质谱SIMS-同位素元素深度剖析
提交方案截止日期：2019-11-30 预算：面议 征集状态：已完结
硅酸盐陶瓷片，成份硅酸盐（Sc2Si2O7，Y2Si2O7 ，Yb2Si2O7），圆形薄片。
5种成分不同的样品通过在3个不同的温度点下在18O2氧化下获得的样品，要通过SIMS，获得每一个样品中18O以及16O强度与溅射深度的对应关系。
测试目的：1. 获得每一个样品中18O以及16O的强度与溅射深度的关系图（原始数据图）。
2. 给出任一溅射深度（多少微米/纳米）处，所对应的18O以及16O的强度（数据）
备注：，样品的反面有标记，SIMS测定的是样品的正面。
