椭偏仪

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品牌:型号:M-2000v,J.A. Woollam RC2,SJ.A.... 服务周期:3-5个工作日 预约次数:985

项目简介

测试项目:
a. n(折射率),k(消光系数)值
b. 膜厚
常规椭偏仪的光谱测试范围370到1000nm,其他范围请咨询项目经理
膜厚的测试范围是0.5nm-10um。
更多测试要求请咨询客户经理

结果展示


样品要求

样品要求:
1. 样品状态:材料一般为块状或薄膜,大小无特殊要求; 
2. 如果有基底的膜层结构要做折射率和消光系数,基地厚度要求越厚越好,膜层厚度要在10um以下,如果是单层膜样品,没有基底,膜厚越厚越好,最好500um以上;膜层需为透明薄膜且膜层表面均匀,基底不需要透明
3.特殊情况需提前沟通。

常见问题

关于测试光谱范围的选择?
椭偏仪的光谱范围在深紫外的142nm到红外33um可选。光谱范围的选择取决于被测材料的属性、薄膜厚度及关心的光谱段等因素。例如,掺杂浓度对材料红外光学属性有很大的影响,因此需要能测量红外波段的椭偏仪;薄膜的厚度测量需要光能穿透这薄膜,到达基底,然后并被探测器检测到,因此需要选用该待测材料透明或部分透明的光谱段;对于厚的薄膜选取长波长更有利于测量

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