18O,16O同位素强度随深度剖析-二次离子质谱SIMS（同位素元素深度剖析）
试验检测
已完结
面议
硅酸盐陶瓷片一共有15个样品，是5种成分不同的样品通过在3个不同的温度点下在18O2氧化下获得的样品，要通过SIMS，获得每一个样品中18O以及16O强度与溅射深度的对应关系。测试目的：1. 获得每一个样品中18O以及16O的强度与溅射深度的关系图（原始数据图）。2. 给出任一溅射深度（多少微米/纳米）处，所对应的18O以及16O的强度（数据） +
状态：已完结
发布日期：2019-09-09
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